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電子力學試驗機,彎曲測試儀國標,彎曲測試參數的設定,彎曲測試機

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HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機技 術 參 數:  
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次 
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊zui小位移量為2mm±0.50mm,
短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊zui小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸完全按照國家標準執行。

3、產品用途:
    用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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3.整機保修一年,產品終身維護
4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用

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